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安捷倫發布全系列微波/射頻/無線與雷達測試方案

發表時間:2022/03/11
  安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣布,將在10月11-13日于英國曼徹斯特中心登場的歐洲微波周中,針對電信、傳輸與醫療應用,展示全新微波、射頻、無線與雷達測試解決方

安捷倫科技公司宣布,將于10月11日至13日在英國曼徹斯特中心舉行的歐洲微波周上展示面向電信、傳輸和醫療應用的新型微波、RF、無線和雷達測試解決方案。

展出的產品包括安捷倫的ADS高級設計系統,以及該公司完整而廣泛的技術,可以滿足所有的電路仿真要求。ADS包括完全集成的3D電磁模擬器,并通過各種無線庫提供FEM、Momentum和系統級驗證功能。

EMPro提供了一個全新高效的三維實體模型制作環境,集成了ADS設計流程和頻域、時域仿真功能。SystemVue提供集成的基頻和射頻/微波系統級分析,出色的射頻/微波模型制作能力,以及簡單的測量設備連接功能。

此外,安捷倫還提供適合各種微波應用的網絡分析產品。公司推出的5臺PNA微波矢量網絡分析儀,頻率高達67 GHz,為微波網絡分析儀提供了測試無源和有源器件的最高效率。安捷倫屢獲殊榮的非線性矢量網絡分析儀提供了超越線性S參數-X參數的突破性技術,使工程師能夠高效、準確地設計和分析真實工作環境中有源元件的性能。

安捷倫E5072A ENA系列網絡分析儀(30 kHz至4.5/8.5 GHz)以實惠的價格提供增強的功能和高達+20 dBm的輸出功率。儀器的可配置測試單元允許用戶訪問儀器內部的信號源和接收器,因此前向測量的動態范圍可向上擴展至151 dB。

安捷倫E5071C ENA系列網絡分析儀(9 kHz至8.5 GHz或300 kHz至20 GHz)免費提供更新的數字硬件,可使儀器的測量速度比以前快30%。

此外,安捷倫新型高性能PXA信號分析儀支持高達900 MHz的中頻帶寬,可用作寬帶下變頻器,提供寬帶通信和雷達信號分析功能。此外,PXA信號分析儀具有160 MHz的帶寬,可以幫助用戶洞察設計問題,從而加快當前802.11ac設備的設計、驗證和調試,輕松解決重要的性能需求。

當與安捷倫89600 VSA軟件的802.11ac調制分析功能(第一個專用的802.11ac信號分析解決方案)一起使用時,PXA將提供高性能和完整的802.11ac信號分析。

Agilent Signal Studio for WLAN軟件可以通過BCC或LDPC信道編碼、全MCS編碼和最多4個流的單用戶或多用戶MIMO產生802.11ac波形。安捷倫的ESG、MXG或PSG矢量信號發生器和PXB基帶發生器和信道模擬器支持產生帶寬高達80 MHz的信號的功能。

安捷倫還將展出AXIe型M8190A 12 GSa/s任意波形發生器,它具有高帶寬和高分辨率的優點。產品展示時會附帶SystemVue和安捷倫的寬帶波形生成軟件。

安捷倫M9392A PXI矢量信號分析儀和安捷倫M9202A數字化儀的寬帶流功能提供了業界最高的帶寬,基于PXI的解決方案,可以連續檢索數據(帶寬高達100 MHz)到RAID存儲設備。這種新的數據采集解決方案允許客戶使用安捷倫89600B矢量信號分析軟件或客戶自己開發的數據分析工具來表征隨時間變化的復雜信號。

新型安捷倫M9036A PXIe模塊化嵌入式控制器是一款緊湊型模塊化測試解決方案。這款三插槽控制器旨在利用安捷倫M9018A PXIe機箱的x8 PCI Express鏈接。它們為客戶的點對點應用提供了一個快速的PXI測試平臺。通過內置的GPIB、USB、ExpressCard和LAN接口,控制器還可以輕松集成到混合測試系統中。

安捷倫PXI射頻和微波測試系統可以提供更高的測量精度和靈活性。DC高達26.5 GHz的安捷倫M9168C PXI可編程步進衰減器模塊具有無與倫比的射頻性能,在每節500萬次循環的工作壽命期間,可以保證0.03 dB的注入損耗的重新測試穩定性。

其他展品包括Agilent 8990B峰值功率分析儀可以測量RF和微波功率的動態或時間相關部分,用于峰值功率分析。配有Agilent N1923/4A峰值功率傳感器的Agilent 8990B可以測量速度高達5 ns的射頻脈沖的上升/下降時間。安捷倫8990B提供50 MHz到40 GHz的頻率范圍,并且& ndash動態功率范圍為5dbm至20 dBm。

安捷倫的40/50/67 GHz SPDT/旁路開關提供了擴展信號路由選項的能力。安捷倫N1810/1/2是市場上唯一一款67 GHz的開關產品。這些開關非常適合雷達和衛星測試、無線HDMI、無線微波回程、高速數字設計和其它應用。

安捷倫的掃描微波顯微鏡和場發射掃描電子顯微鏡,結合強大的原子力顯微鏡和PNA,提供精確的納米級掃描電容測量。

安捷倫的小型FE_SEM經過優化,可為納米結構材料提供超高分辨率的低電壓成像。

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